ＳＯＣテスト設計と最適化入門 Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization (Frontiers in Electronic Testing Vol.29) （2007. 390 p.）

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ＳＯＣテスト設計と最適化入門<br>Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization (Frontiers in Electronic Testing Vol.29) （2007. 390 p.）

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ＳＯＣテスト設計と最適化入門
Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization (Frontiers in Electronic Testing Vol.29) （2007. 390 p.）

Larsson, Erik

ウェブストア価格 ¥38,294（本体¥34,813）
SPRINGER NETHERLANDS（2007発売）
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製本 Hardcover:ハードカバー版／ページ数 390 p.
言語 ENG
商品コード 9781402032073

基本説明

Gives an introduction to testing, describes the problems related to SOC testing, discusses the modeling granularity and the implementation into EDA (electronic design automation) tools.

Full Description

SOC test design and its optimization is the topic of Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization. The second part of the book discusses SOC related problems such as system modeling, test conflicts, power consumption, test access mechanism design, test scheduling and defect-oriented scheduling.