内容説明
ＭＩＬ‐ＳＴＤ‐７５０とは、軍用における半導体デバイスを試験するための統一的な方法について規定したもので、１９７０年に制定されて以来、たびたび改正が行われているが、最新の規格は１９８３年２月２３日に制定されたものである。今回、７５０Ｃの邦訳に当たっては、原規格の新制定及び改正された内容を中心に当会が独自に見直しを行い邦訳した。
目次
環境試験（１０００クラス）
機械的試験（２０００クラス）
トランジスタ電気的試験（３０００クラス）
回路動作及び熱抵抗測定（３１００シリーズ）
低周波試験（３２００シリーズ）
高周波試験（３３００シリーズ）
電界効果トランジスタ電気的試験（３４００シリーズ）
ダイオード電気的試験（４０００クラス）
マイクロ波ダイオード（４１００シリーズ）
サイリスタ（制御整流素子）（４２００シリーズ）
トンネルダイオード（４３００シリーズ）
高信頼性宇宙適用試験（５０００クラス）
-
- 和書
- 神経病理インデックス
