Reliability and Failure Analysis of High-Power LED Packaging
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Reliability and Failure Analysis of High-Power LED Packaging  言語:ENG

Tan, Cher Ming/Singh, Preetpal

  • 価格 ¥37,778(本体¥34,344)
  • Woodhead Publishing(2022/09/24発売)
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Theory and Practice of Quality and Reliability Engineering in Asia Industry〈1st ed. 2017〉
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Theory and Practice of Quality and Reliability Engineering in Asia Industry〈1st ed. 2017〉  言語:ENG

Tan, Cher Ming (EDT)/Goh, Thong Ngee (EDT)

  • 価格 ¥40,477(本体¥36,798)
  • Springer(2017/01/20発売)
  • ポイント 11,010pt (実際に付与されるポイントはご注文内容確認画面でご確認下さい)
Graphene and VLSI Interconnects
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Graphene and VLSI Interconnects  言語:ENG

Tan, Cher-Ming/Narula, Udit/Sangwan, Vivek

  • 価格 ¥28,663(本体¥26,058)
  • Jenny Stanford Publishing(2021/11/24発売)
  • ポイント 7,800pt (実際に付与されるポイントはご注文内容確認画面でご確認下さい)
Electromigration Modeling at Circuit Layout Level
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Electromigration Modeling at Circuit Layout Level  言語:ENG

Tan, Cher Ming/He, Feifei

  • 価格 ¥10,117(本体¥9,198)
  • Springer(2013/03/16発売)
  • ポイント 2,730pt (実際に付与されるポイントはご注文内容確認画面でご確認下さい)
Applications of Finite Element Methods for Reliability Studies on ULSI Interconnections
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Applications of Finite Element Methods for Reliability Studies on ULSI Interconnections  言語:ENG

Tan, Cher Ming/Li, Wei/Gan, Zhenghao/Hou, Yuejin

  • 価格 ¥18,213(本体¥16,558)
  • Springer(2011/03/28発売)
  • ポイント 4,950pt (実際に付与されるポイントはご注文内容確認画面でご確認下さい)
Future Learning in Primary Schools〈1st ed. 2016〉 : A Singapore Perspective
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Future Learning in Primary Schools〈1st ed. 2016〉 : A Singapore Perspective  言語:ENG

Chai, Ching Sing (EDT)/Lim, Cher Ping (EDT)/Tan, Chun Ming (EDT)

  • 価格 ¥10,117(本体¥9,198)
  • Springer(2015/10/12発売)
  • ポイント 2,730pt (実際に付与されるポイントはご注文内容確認画面でご確認下さい)