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Integrated Circuit Defect-Sensitivity: Theory and Computational Models (The Springer International Series in Engineering and Computer Science)
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Integrated Circuit Defect-Sensitivity: Theory and Computational Models (The Springer International Series in Engineering and Computer Science)  Paperback,  言語：ENG

Pineda de Gyvez, José

  • ウェブストア価格 ¥23,538（本体¥21,399）
  • Springer-Verlag New York Inc.（2014/02発売）
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Low-Power High-Resolution Analog to Digital Converters : Design, Test and Calibration (Analog Circuits and Signal Processing)
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Low-Power High-Resolution Analog to Digital Converters : Design, Test and Calibration (Analog Circuits and Signal Processing)  Paperback

Zjajo, Amir/ Pineda de Gyvez, José

  • ウェブストア価格 ¥11,767（本体¥10,698）
  • Springer（2016/08発売）
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ナノメートル　ＣＭＯＳ　ＶＬＳＩ回路のための欠陥指向テスト（第２版）<br>Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing) 〈Vol. 34〉 （2ND）
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ナノメートル　ＣＭＯＳ　ＶＬＳＩ回路のための欠陥指向テスト（第２版）
Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing) 〈Vol. 34〉 （2ND）  Hardcover,  言語：ENG

Sachdev, Manoj/ Pineda de Gyvez, José

  • ウェブストア価格 ¥47,081（本体¥42,801）
  • Springer（2007/03発売）
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Defect-oriented Testing for Nano-metric CMOS VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing) （2ND）
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Defect-oriented Testing for Nano-metric CMOS VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing) （2ND）  Paperback,  言語：ENG

Sachdev, Manoj/ Pineda De Gyvez, Jose

  • ウェブストア価格 ¥47,081（本体¥42,801）
  • Springer（2010/02発売）
  • ポイント 428pt
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