Defect-oriented Testing for Nano-metric CMOS VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing) （2ND）

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Defect-oriented Testing for Nano-metric CMOS VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing) （2ND）

Sachdev, Manoj/ Pineda De Gyvez, Jose

ウェブストア価格 ¥48,010（本体¥43,646）
Springer（2010/02発売）
外貨定価 US$ 219.99
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製本 Paperback:紙装版/ペーパーバック版／ページ数 349 p.
言語 ENG
商品コード 9781441942852
DDC分類 621

Full Description

Final test consists of checking device functionality by exercising RF tests and by applying a comprehensive suite of digital test methods such as I , delay fault testing, DDQ stuck-at testing, low-voltage testing, etc.