Integrated Circuit Defect-Sensitivity: Theory and Computational Models (The Springer International Series in Engineering and Computer Science)

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Integrated Circuit Defect-Sensitivity: Theory and Computational Models (The Springer International Series in Engineering and Computer Science)

Pineda de Gyvez, José

ウェブストア価格 ¥23,538（本体¥21,399）
Springer-Verlag New York Inc.（2014/02発売）
外貨定価 US$ 109.99
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製本 Paperback:紙装版/ペーパーバック版／ページ数 167 p.
言語 ENG
商品コード 9781461363835
DDC分類 621

Full Description

The expectation was that many small design companies would share the investment into the extremely costful Silicon fabrication plants while designing large lots of application-specific integrated circuits (ASIC's).