ナノメートル ＣＭＯＳ ＶＬＳＩ回路のための欠陥指向テスト（第２版） Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing) 〈Vol. 34〉 （2ND）

ナノメートル　ＣＭＯＳ　ＶＬＳＩ回路のための欠陥指向テスト（第２版）<br>Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing) 〈Vol. 34〉（2ND）

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ナノメートル　ＣＭＯＳ　ＶＬＳＩ回路のための欠陥指向テスト（第２版）
Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing) 〈Vol. 34〉（2ND）

Sachdev, Manoj/ Pineda de Gyvez, José

ウェブストア価格 ¥50,332（本体¥45,757）
Springer（2007/03発売）
外貨定価 US$ 219.99
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製本 Hardcover:ハードカバー版／ページ数 330 p.
言語 ENG
商品コード 9780387465463
DDC分類 621

基本説明

Originally published as volume 10 in this series.

Full Description

Final test consists of checking device functionality by exercising RF tests and by applying a comprehensive suite of digital test methods such as I , delay fault testing, DDQ stuck-at testing, low-voltage testing, etc.