Advanced Mathematical and Computational Tools in Metrology and Testing IX (Series on Advances in Mathematics for Applied Sciences) / Pavese, Franco (EDT)/ Baer, Markus (EDT)/ Filtz, Jean-remy (EDT)

気象学における計算ツール（会議録）<br>Advanced Mathematical and Computational Tools in Metrology and Testing IX (Series on Advances in Mathematics for Applied Sciences)

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気象学における計算ツール（会議録）
Advanced Mathematical and Computational Tools in Metrology and Testing IX (Series on Advances in Mathematics for Applied Sciences)

Pavese, Franco (EDT)/ Baer, Markus (EDT)/ Filtz, Jean-remy (EDT)

ウェブストア価格 ¥36,748（本体¥33,408）
World Scientific Publishing Co Pte Ltd（2012/03発売）
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製本 Hardcover:ハードカバー版／ページ数 468 p.
言語 ENG
商品コード 9789814397940
DDC分類 530.8

基本説明

Prompted by presentations made at the ninth AMCTM Conference, Sweden 2011.

Full Description

This volume contains original, refereed worldwide contributions. They were prompted by presentations made at the ninth AMCTM Conference held in Göteborg (Sweden) in June 2011 on the theme of advanced mathematical and computational tools in metrology and also, in the title of this book series, in testing.The themes in this volume reflect the importance of the mathematical, statistical and numerical tools and techniques in metrology and testing and, also in keeping the challenge promoted by the Metre Convention, to access a mutual recognition for the measurement standards.