VLSI Design and Test : 21st International Symposium, VDAT 2017, Roorkee, India, June 29 - July 2, 2017, Revised Selected Papers (Communications in Computer and Information Science)

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VLSI Design and Test : 21st International Symposium, VDAT 2017, Roorkee, India, June 29 - July 2, 2017, Revised Selected Papers (Communications in Computer and Information Science)

Kaushik, Brajesh Kumar (EDT)/ Dasgupta, Sudeb (EDT)/ Singh, Virendra (EDT)

ウェブストア価格 ¥22,300（本体¥20,273）
Springer Verlag, Singapore（2017/12発売）
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製本 Paperback:紙装版/ペーパーバック版／ページ数 815 p.
言語 ENG
商品コード 9789811074691
DDC分類 004

Full Description

This book constitutes the refereed proceedings of the 21st International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2017, held in Roorkee, India, in June/July 2017.
The 48 full papers presented together with 27 short papers were carefully reviewed and selected from 246 submissions. The papers were organized in topical sections named: digital design; analog/mixed signal; VLSI testing; devices and technology; VLSI architectures; emerging technologies and memory; system design; low power design and test; RF circuits; architecture and CAD; and design verification.

Digital design.- Analog/mixed signal.- VLSI testing.- Devices and technology.- VLSI architectures.- Emerging technologies and memory.- System design.- Low power design and test.- RF circuits.- Architecture and CAD.- Design verification.