Acoustic Scanning Probe Microscopy (Nanoscience and Technology) （2013）

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Acoustic Scanning Probe Microscopy (Nanoscience and Technology) （2013）

Marinello, Francesco (EDT)/ Passeri, Daniele (EDT)/ Savio, Enrico (EDT)

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Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. K（2014/11発売）
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製本 Paperback:紙装版/ペーパーバック版／ページ数 494 p.
言語 ENG
商品コード 9783642430794

Full Description

The combination of atomic force microscopy with ultrasonic methods allows the nearfield detection of acoustic signals. Calibration and enhancement are discussed to better define the performance of the techniques, which are also compared with other classical techniques such as nanoindentation or surface acoustic wave.