Applied Scanning Probe Methods : Volumes I - XIII (NanoScience and Technology) / Bhushan, B. (EDT)/ Fuchs, H. (EDT) - 紀伊國屋書店ウェブストア｜オンライン書店

走査プローブ顕微鏡と産業面への応用（全１３巻）<br>Applied Scanning Probe Methods : Volumes I - XIII (NanoScience and Technology)

走査プローブ顕微鏡と産業面への応用（全１３巻）
Applied Scanning Probe Methods : Volumes I - XIII (NanoScience and Technology)

Bhushan, B. (EDT)/ Fuchs, H. (EDT)

Springer（2009/06発売）

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製本 Hardcover:ハードカバー版／ページ数 4,800 p.
商品コード 9783540888239

基本説明

走査プローブ顕微鏡法シリーズ（2004-2008年完結）にお求め安いシリーズ全巻セット価格が設定されました。

Full Description

Examining the physical and technical foundation for recent progress with this technique, this book offers a comprehensive overview of SPM applications, now that industrial applications span topographic and dynamical surface studies of thin-film semiconductors, polymers, paper, ceramics, and magnetic and biological materials.