in situ 電子顕微鏡法<br>In-situ Electron Microscopy : Applications in Physics, Chemistry and Materials Science (2012. XVI, 380 p. w. 178 b&w and 11 col. figs., 4 tables. 240 mm)

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in situ 電子顕微鏡法
In-situ Electron Microscopy : Applications in Physics, Chemistry and Materials Science (2012. XVI, 380 p. w. 178 b&w and 11 col. figs., 4 tables. 240 mm)

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  • 製本 Hardcover:ハードカバー版/ページ数 402 p.
  • 商品コード 9783527319732

Full Description

Adopting a didactical approach from fundamentals to actual experiments and applications, this handbook and ready reference covers
real-time observations using modern scanning electron microscopy and transmission electron microscopy, while also providing information
on the required stages and samples. The text begins with introductory material and the basics, before describing advancements and applications in dynamic transmission electron microscopy and reflection electron microscopy. Subsequently, the techniques needed to determine growth processes, chemical reactions and oxidation, irradiation effects, mechanical, magnetic, and ferroelectric properties as well as cathodoluminiscence and electromigration are discussed.

Contents

((short))
Basics
Thermodynamics
Mechanical Properties
Magnetic Properties
Optical Properties
Electronic Properties
Ferroelectric Properties
Soft Matter

((long))
I. Basics
Scanning Electron Microscopy (SEM)
Focused Ion Beam Microscopy (FIB)
Transmission Electron Microscopy (including HRTEM and STEM)
Camera Systems for Dynamic TEM Experiments
II. Thermodynamics
Growth Processes
Melting and Pre-melting
Chemical Reactions and Oxidation
Interface Kinetcs
Formation of Silicides from a-Si and metal layers
Formation of Surface Patterns observed by Reflection Electron Microscopy
III. Mechanical Properties
The FIB Platform
Mechanical Tests in the SEM
Strain Mapping by Image Correlation (SEM to HRTEM)
Dislocation Mechanisms
New Developments: In-situ Nanoindentation, AFM, and STM Experiments in the TEM
IV. Magnetic Properties
Lorentz-Microscopy
Dynamic Observations of Domains, Vortices and of Ultrafast Phenomena by TEM and PEEM
V. Optical Properties
Cathodoluminiscence in SEM and TEM
Optical Properties of Nanotubes
VI. Electronic Properties
EBIC (SEM) and Potential Contrast
Electromigration (SEM, TEM)
VII. Ferroelectric Properties
Ferroelectric Domains
VIII. Soft Matter
Experiments using Wet-cells (SEM, ESEM, biological samples and materials)
Structure Determination of Soft Matter using In-situ Techniques

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