Design and Analysis of Accelerated Life Tests

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Design and Analysis of Accelerated Life Tests

Pan, Rong

ウェブストア価格 ¥27,713（本体¥25,194）
Chapman & Hall/CRC（2026/08発売）
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製本 Hardcover:ハードカバー版／ページ数 304 p.
言語 ENG
商品コード 9781498753449

Full Description

Accelerated life tests (ALTs) have become an indispensable tool for reliability engineers to quantify a product's reliability, and for product managers to make product release decisions. However, there are many common misuses of ALTs and misinterpretations of their results. This book provides a framework for the proper design and analysis of ALTs. It compares ALTs with other industrial testing experiments, and provides guidance on their appropriate application. It features lots of examples using real data from industrial experiments, and provides statistical software for their implementation. It can be used as a textbook for students of reliability, or as a reference for practitioners

Introduction to Reliability Testing; Lifetime distributions; Acceleration models; Planning ALTs with Single Stress Factor; Planning ALTs with Multiple Stress Factors; Test Plans for Model Checking; Tests with Blocking and Subsampling; Other reliability tests.