Modeling of Electrical Overstress in Integrated Circuits (The Springer International Series in Engineering and Computer Science)

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Modeling of Electrical Overstress in Integrated Circuits (The Springer International Series in Engineering and Computer Science)

Diaz, Carlos H./ Sung-Mo (Steve) Kang/ Duvvury, Charvaka

ウェブストア価格 ¥38,055（本体¥34,596）
Springer-Verlag New York Inc.（2012/09発売）
外貨定価 US$ 169.99
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製本 Paperback:紙装版/ペーパーバック版／ページ数 148 p.
言語 ENG
商品コード 9781461362050
DDC分類 621

Full Description

Fundamental understanding of the physical phenomena leading to device failures under ESD/EOS events is needed for the development of device models and CAD tools that can efficiently describe the device behavior up to the onset of thermal failure.