Characterization Problems Associated with the Exponential Distribution （Reprint）

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Characterization Problems Associated with the Exponential Distribution （Reprint）

Azlarov, T. A./ Volodin, N. A./ Olkin, I. (EDT)/ Stein, M. (TRN)

ウェブストア価格 ¥12,310（本体¥11,191）
Springer Verlag（2012/07発売）
外貨定価 US$ 54.99
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製本 Paperback:紙装版/ペーパーバック版／ページ数 142 p.
言語 ENG
商品コード 9781461293743
DDC分類 519

Full Description

Problems of calculating the reliability of instruments and systems and the development of measures to increase efficiency and reduce operational costs confronted physicists and mathe maticians at the end of the '40's and the beginning of the '50's in connection with the unrelia bility of electro-vacuum instruments used in aviation.