Ｐｒａｃｔｉｃａｌ ｔｅｃｈｎｏｌｏｇｙ ｓｅｒｉｅｓ マイクロプロセッサ応用システムの故障検査法

Ｗｉｌｌｉａｍｓ，Ｇ．Ｂ．【著】/後藤 宣之【訳】

日本技術経済センター（1987/02発売）

• サイズ A5判／ページ数 259p／高さ 21cm
• 商品コード 9784880440521
• NDC分類 548.2

目次

１　マイクロプロセッサ応用システムの概要
２　システム検査の問題
３　システム検査の原理
４　汎用の検査機器の使用法
５　手持で使用するツール
６　ロジックアナライザ
７　シグネチュア解析
８　エミュレーション
９　自己検査と診断ソフトウエア
１０　周辺装置に関連する機能の検査