目次
第1編 材料(低分子材料1(低分子p型トランジスタ用材料)
低分子系材料2
高分子半導体材料
単結晶材料
分子化合物系材料)
第2編 プロセス(キャリア注入とambipolar化;接触抵抗;トップコンタクト短チャネル有機薄膜トランジスタ;低電圧化)
第3編 測定技術と評価方法(薄膜構造解析;有機トランジスタ中の電子スピン;光電子分光法;変位電流‐チャネル電流法;SHG法による有機トランジスタの評価)
第4編 新デバイス(発光トランジスタ;電気二重層トランジスタ;縦型有機トランジスタ)
第1編 材料(低分子材料1(低分子p型トランジスタ用材料)
低分子系材料2
高分子半導体材料
単結晶材料
分子化合物系材料)
第2編 プロセス(キャリア注入とambipolar化;接触抵抗;トップコンタクト短チャネル有機薄膜トランジスタ;低電圧化)
第3編 測定技術と評価方法(薄膜構造解析;有機トランジスタ中の電子スピン;光電子分光法;変位電流‐チャネル電流法;SHG法による有機トランジスタの評価)
第4編 新デバイス(発光トランジスタ;電気二重層トランジスタ;縦型有機トランジスタ)