出版社内容情報
現場で役に立つノウハウが満載！ X線構造解析を手段として利用する研究者のための，待望の指南書が登場．正しい構造データを得るためのコツや，構造データから得られる情報を正しく解釈するために必要な知識を平易にまとめた．
1章 X線回折法の原理
2章 結晶構造の対称性
3章 構造モデルの導出および精密化
4章 単結晶の育成と測定の用意
5章 X線回折強度の測定
6章 構造解析の実際の流れ
7章 構造解析の落とし穴
8章 CIF
9章 トラブルシューティング
10章 SHELXの使い方
付録
目次
１章 Ｘ線回折法の原理
２章 結晶構造の対称性
３章 構造モデルの導出および精密化
４章 単結晶育成と測定の用意
５章 Ｘ線回折強度の測定
６章 構造解析の実際の流れ
７章 構造解析の落とし穴
８章 ＣＩＦ
９章 トラブルシューティング
１０章 ＳＨＥＬＸの使い方
著者等紹介
大場茂［オオバシゲル］
１９５３年山形県生まれ。１９７２年秋田県立秋田高校卒業。１９７６年東北大学理学部化学科卒業。１９８１年東京大学大学院理学系研究科博士課程修了。慶應義塾大学理工学部化学科助手。１９９３年同助教授。２００１年慶應義塾大学文学部教授。理学博士
植草秀裕［ウエクサヒデヒロ］
１９６４年東京都生まれ。１９８３年慶應義塾高等学校卒業。１９８７年慶應義塾大学理工学部化学科卒業。１９９２年慶應義塾大学大学院理工学研究科博士課程修了。東京工業大学理学部化学科助手。１９９９年東京工業大学大学院理工学研究科助教授。２００９年同准教授。理学博士（本データはこの書籍が刊行された当時に掲載されていたものです）
※書籍に掲載されている著者及び編者、訳者、監修者、イラストレーターなどの紹介情報です。
-
- 和書
- 薬物治療学
