表面分析技術選書 走査プローブ顕微鏡/分光法 第2版

表面分析技術選書<br> 走査プローブ顕微鏡/分光法第2版

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表面分析技術選書
走査プローブ顕微鏡/分光法第2版

公益社団法人日本表面真空学会
価格 ¥4,180（本体¥3,800）
丸善出版（2025/11/05発売）
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サイズＡ５判
商品コード 9784621312018
Cコード C3342

出版社内容情報

走査プローブ顕微鏡（SPM）は、nmレベルに細く尖らせた探針（プローブ）を試料表面に沿って走査させ、試料表面からしみ出す物理量を計測することで、その形状や性質を観察する手法である。近年、SPM技術の進展によりさまざまな走査プローブ分光法（SPS）が開発され、単原子レベルで物理的化学的特性を定量評価する科学分野が生まれてきている。

正しい測定を行うためにはどうしたらよいのか、応用例を挙げながら詳細に解説する。

【目次】