SiC/GaNパワー半導体の実装と信頼性評価技術

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  • サイズ A5判/ページ数 247p/高さ 21cm
  • 商品コード 9784526073397
  • NDC分類 549.8
  • Cコード C3054

目次

第1章 緒言
第2章 ワイドバンドギャップ半導体パワーデバイスの現状と実装
第3章 SiC/GaNパワー半導体の開発
第4章 ワイヤボンド技術
第5章 ダイアタッチ技術
第6章 モールド樹脂技術
第7章 基板技術
第8章 冷却技術
第9章 信頼性評価・検査技術

著者等紹介

菅沼克昭[スガヌマカツアキ]
1977年東北大学工学部卒業、1979年東北大学工学系大学院原子核工学専攻修士修了、1982年同博士課程修了、同年、大阪大学産業科学研究所助手、1986年防衛大助教授、1996年阪大産研教授。専門は実装工学、材料工学(本データはこの書籍が刊行された当時に掲載されていたものです)
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