出版社内容情報
電子機器の故障原因の1つに、電子機器設計者が電子部品を正しく理解していないことが挙げられている。本書は、電子部品が故障原因として究明された数々の事例を挙げながら、その対策を具体的に解説している。
内容説明
本書は信頼性工学に関する図書。具体的に電子部品の取り扱いや特性を解説、故障例を数多く取り上げるとともに、数式はできるだけ使用しないように心がけた。
目次
故障を減らそう、寿命を延ばそう
電子機器の信頼性改善の歴史
電子機器の故障とは何か
半導体部品の故障
コンデンサの故障
抵抗器
印刷配線板
はんだ
電源部
イオンマイグレーションとウイスカー
温度，湿度と故障
故障解析
良品解析
電子機器，電子部品の信頼性試験
工場の改善
電子機器の故障不再現
故障を減らし，寿命を延ばす
著者等紹介
吉田弘之［ヨシダヒロユキ］
昭和９年東京に生まれる。昭和３３年早稲田大学理工学部応用物理学科卒業。松下通信工業において黎明期のコンピュータを開発。計測器システムの開発、ＡＤ変換機の開発、パターン認識の研究、生産技術部においてパターン認識技術を利用して半導体製造後工程の完全自動化に成功、品質技術部において電子部品、材料の信頼性を研究。１９８４年フランスで開催された信頼性国際会議にてＩＣの信頼性について招待論文として発表。タバイエスペック（株）に移籍、取締役に就任。電子部品の信頼性、信頼性試験方法について研究。タバイエスペック（株）を定年退職。現在、石川県技術アドバイザー、日本信頼性学会評議員、電子部品の故障物性研究会名誉会長、元日本信頼性学会総務担当理事。良品解析を考案して提唱、日本科学技術連盟主催のシンポジウムにおいて推奨報文賞を５回受賞
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