出版社内容情報
画像とその処理技術は，対象の状態に関する時空間情報を効率的に伝え，必要とする情報を選択して抽出する技術として，産業における計測と検査の分野で積極的に導入され，各種の応用技術が開発されてきた。
まず1970年代にトランジスタ用自動ワイヤボンディング装置の位置決め技術として開花し，その後，プリント回路板検査装置，ＶＴＲ磁気ヘッド検査装置などの高密度電子部品や高精度メカトロニクス製品の計測検査技術として多くの応用技術が生み出された。そして，画像処理応用技術は，半導体部品，精密機械工業の発展になくてはならない基盤技術として確固たる地位を築くとともに，さらに農水産業など他の産業分野にも広く波及していった。広く産業の各分野へ浸透するのに伴い，画像処理応用技術の導入や開発に従事する技術者，あるいはこれから従事しようとする技術者や研究者の数が年々増えてきている。これらの人々の画像技術に接する度合い，保有する関連知識，経験はさまざまであり，画像処理応用技術に関心をもつ人々は多岐にわたっている。
精密工学会画像応用技術専門委員会は，1986年11月に発足以来，これらの人々の関心に応えて，研究と技術開発の成果，応用事例についての発表と討論の場，あるいは最新の技術動向についての調査研究の場を提供してきた。本委員会は，活動が１０年を越えたことを記念して，これまでの活動期間を通じて蓄積された画像処理技術の産業応用に関する経験と知識をまとめて出版し，画像処理応用技術に関わる技術者や研究者の便宜を図ることとした。
執筆は専門委員会の運営委員が主に担当した。読者として，大学，研究機関の研究者や大学院学生，画像応用技術の導入を考えている産業の各分野の技術者を対象としている。本書では，広範な読者を想定し，個々の読者の目的に応じて利用していただけるように構成に配慮を行っている。
第１章では，本書で対象とする産業用画像処理応用システムの構成の全体像について述べる。また計測・検査分野へ画像処理技術を応用することの意義について述べ，画像応用システムが実現する主要な計測・検査機能を大別して示し，画像処理応用システムの導入が成功するための開発条件について述べる。
第２章および第３章においては，本書の基礎編として，画像処理応用システムの基盤となる画像処理技術とその関連技術およびシステム設計の進め方について述べる。
第４章は応用編として個々の応用事例についてシステム構築の実際について述べる。
第５章では今後の画像処理応用技術の発展動向と研究開発課題について述べる。
したがって初学者は，第２章と第３章により画像処理応用システムの基盤となる個々の基本技術について学習することができる。すでに画像処理技術の知識をある程度有する読者は，実際にシステムを構築する際のヒントとして第４章を利用することができる。また産業用画像応用システムの特質と全体像，および今後の技術動向について最初に概観したければ，第１章と第５章だけを通読してもよい。
本書は，画像処理応用に実際に取り組んでいる第一線の研究者と技術者により執筆されたもので，画像応用技術専門委員会の活動を通して見すえた現実を踏まえた内容になっており，画像処理応用に従事する読者の指針となるものと期待している。
最後に，多数の執筆者の原稿を忍耐強く取りまとめられた東京電機大学出版局の編集課課長植村八潮氏と徳富 亨氏に深く感謝いたします。
２０００年６月
第１章 計測・検査システムへの画像処理技術の応用
1.1 産業用画像処理応用システムの構成
1.2 画像処理技術の計測・検査への導入の意義
1.3 画像処理技術の応用分野
1.4 画像処理応用システムの開発条件
基礎編
第２章 画像計測・検査技術の基礎
2.1 画像形成
2.2 画像処理
2.3 感覚量の評価
第３章 画像計測・検査システムの設計
3.1 システム設計
3.2 仕様決定と基礎実験
3.3 仕様とデザインポリシー
応用編
第４章 画像計測・検査システムの構築
4.1 見つける
4.2 数える
4.3 形を測る
4.4 合わせる
4.5 識別する
4.6 比較する
4.7 記号・文字を読む
4.8 見えないものを視る
4.9 感覚量を測る
第５章 画像応用システムの発展と展望
5.1 電子産業における画像応用技術の展開
5.2 画像応用技術の現状
5.3 今後の展望
索引
内容説明
精密工学会画像応用技術専門委員会は、１９８６年１１月に発足以来、研究と技術開発の成果、応用事例についての発表と討論の場、あるいは最新の技術動向についての調査研究の場を提供してきた。本書は、活動が１０年を越えたことを記念して、これまでの活動期間を通じて蓄積された画像処理技術の産業応用に関する経験と知識をまとめたものである。
目次
計測・検査システムへの画像処理技術の応用
基礎編（画像計測・検査技術の基礎；画像計測・検査システムの設計）
応用編（画像計測・検査システムの構築；画像応用システムの発展と展望）
