目次
第０章 共分散構造分析をはじめる前に
第１章 Ａｍｏｓ入門―共分散構造分析を体験する
第２章 複数モデルの比較―要因全体の構造を捉える
第３章 平均構造モデル―潜在変数の大きさを測定する
第４章 ベイズ法代入―欠損値を推定する
第５章 因子分析から共分散構造分析へ―既存の調査データを活用する
第６章 ここが知りたい！共分散構造分析―つまずきから学習を深める
第７章 実践的アプローチの事例―ブランド力を測定する
演習問題の解答
著者等紹介
大石展緒［オオイシノブオ］
１９３７年東京都生まれ。株式会社アイ・エム・シー開発代表取締役。社団法人日本能率協会専任講師。元愛知学泉大学経営学部教授。元法政大学工学部非常勤講師。専門は計量マーケティング
都竹浩生［ツズクヒロオ］
１９７４年愛知県豊橋市生まれ。１９９６年愛知学泉大学経営学部経営学科卒業。同年株式会社アイ・エム・シー開発入社。Ａｍｏｓのユーザー歴は１０年を超える。意識調査の結果と市場シェアのマッチングを実現する、調査系データの解析に取り組む（本データはこの書籍が刊行された当時に掲載されていたものです）
※書籍に掲載されている著者及び編者、訳者、監修者、イラストレーターなどの紹介情報です。
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