ディペンダブルシステム―高信頼システム実現のための耐故障・検証・テスト技術

米田 友洋/梶原 誠司/土屋 達弘【著】

共立出版（2005/11発売）

• サイズ A5判／ページ数 243p／高さ 22cm
• 商品コード 9784320121522
• NDC分類 548.2
• Cコード C3041

内容説明

本書では、分散システムの耐故障化技術、形式的設計検証技術、および、テスト技術の三つのテーマについて、最近の技術をカバーしつつ、大学院レベルの教科書、あるいは、研究者の参考書として使えるように、わかりやすく解説することを目指した。

目次

第１章　基礎概念（ディペンダブルなシステムとは；用語　ほか）
第２章　誤り検出とマスクによる耐故障化技術（静的マスク；動的マスク　ほか）
第３章　分散システムのフォールトトレランス（分散システムのモデル；合意問題　ほか）
第４章　形式的設計検証技術（基本概念；ＣＴＬモデル検証　ほか）
第５章　テスト技術（テストとは；故障モデル　ほか）

著者等紹介

米田友洋［ヨネダトモヒロ］
１９８５年東京工業大学大学院理工学研究科博士課程修了。東京工業大学助手、同助教授を経て、国立情報学研究所教授。総合研究大学院大学教授。東京工業大学連携教授。工学博士

梶原誠司［カジハラセイジ］
１９９２年大阪大学大学院工学研究科博士後期課程修了。大阪大学工学部助手、九州工業大学情報工学部助教授を経て、九州工業大学情報工学部教授。博士（工学）

土屋達弘［ツチヤタツヒロ］
１９９５年大阪大学大学院基礎工学研究科博士前期課程修了。大阪大学大学院基礎工学研究科助手、同講師を経て、大阪大学大学院情報科学研究科助教授。博士（工学）（本データはこの書籍が刊行された当時に掲載されていたものです）
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