Progress in Pattern Recognition, Image Analysis, Computer Vision, and Applications/ Herausgegeben:Herná/ndez-Garcí/a, Ruber/ Barrientos, Ricardo J./ Velastin, Sergio A.
よろしければ下記URLをクリックしてください。
ご注意 リンク先のウェブサイトは、「JPO 一般社団法人日本出版インフラセンター」のページで、紀伊國屋書店のウェブサイトではなく、紀伊國屋書店の管理下にはないものです。この告知で掲載しているウェブサイトのアドレスについては、当ページ作成時点のものです。ウェブサイトのアドレスについては廃止や変更されることがあります。最新のアドレスについては、お客様ご自身でご確認ください。リンク先のウェブサイトについては、「JPO 一般社団法人日本出版インフラセンター」にご確認ください。
ご注意 リンク先のウェブサイトは、「Googleプレビュー」のページで、紀伊國屋書店のウェブサイトではなく、紀伊國屋書店の管理下にはないものです。この告知で掲載しているウェブサイトのアドレスについては、当ページ作成時点のものです。ウェブサイトのアドレスについては廃止や変更されることがあります。最新のアドレスについては、お客様ご自身でご確認ください。リンク先のウェブサイトについては、「Googleプレビュー」にご確認ください。
Freeman, Rupert (EDT)/ Mattei, Nicholas (EDT)
Martínez-Villaseñor, Lourdes (EDT)/ Ochoa-Ruiz, Gilberto (EDT)
Wenk, Hans-Rudolf/ Wenk, Elizabeth
Ozogul, Fatih (EDT)/ Trif, Monica (EDT)/ Rusu, Alexandru (EDT)
Correia Castilho, Luísa (EDT)/ Sampaio Dias, Rui (EDT)/ Rocha, Luzia (EDT)
Griemert, Rudolf
Flores Cuautle, José de Jesús Agustín (EDT)/ Benítez-Mata, Balam (EDT)/ Salido-Ruiz, Ricardo Antonio (EDT)
van Basshuysen, Richard (EDT)/ Flierl, Rudolf (EDT)
Krauss, Rune
Appels, Rudi (EDT)/ Eversole, Kellye (EDT)/ Feuillet, Catherine (EDT)
Fensel, Anna (EDT)/ Ozaki, Ana (EDT)/ Roman, Dumitru (EDT)
Everding, Dagmar/ Genske, Dieter D./ Ruff, Ariane
Oswald, Martin/ Abel, Ruth/ Zoller, Matthias
Caballero, David (EDT)/ Kundu, Subhas C. (EDT)/ Reis, Rui L. (EDT)
Hausmann, Rudolf (EDT)/ Henkel, Marius (EDT)
Mezei, Razvan Alexandru
Rubin, Victoria L.
Rüttimann, Bruno G./ Stöckli, Martin T.
次回からメールアドレス入力を省略 パスワードを表示する
パスワードを忘れてしまった方はこちら
会員登録(無料)
カートの中を見る