Integration of Functional Oxides with Semiconductors
  • 洋書

Integration of Functional Oxides with Semiconductors  Paperback,  言語:ENG

Demkov, Alexander A./ Posadas, Agham B.

  • ウェブストア価格 ¥22,764(本体¥20,695)
  • Springer-Verlag New York Inc.(2016/09発売)
  • ポイント 206pt
  • 海外からお取り寄せ(通常6~9週間)
ゲート誘電体材料の基礎<br>Materials Fundamentals of Gate Dielectrics (2005. VIII, 476 p.)
  • 洋書

ゲート誘電体材料の基礎
Materials Fundamentals of Gate Dielectrics (2005. VIII, 476 p.)
 Hardcover,  言語:ENG

Ed. by Alexander A. Demkov and Alexandra Navrotsky

  • ウェブストア価格 ¥35,183(本体¥31,985)
  • Springer(2005/11発売)
  • ポイント 319pt
  • 海外取次在庫
CMOS Gate-Stack Scaling — Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155 (Mrs Proceedings)
  • 洋書

CMOS Gate-Stack Scaling — Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155 (Mrs Proceedings)  Paperback,  言語:ENG

Demkov, Alexander A. (EDT)/ Taylor, Bill (EDT)/ Harris, H. Rusty (EDT)

  • ウェブストア価格 ¥7,243(本体¥6,585)
  • Cambridge University Press(2014/06発売)
  • ポイント 65pt
  • オンデマンド(OD/POD)版です。キャンセルは承れません。
CMOS Gate-Stack Scaling — Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155 (Mrs Proceedings)
  • 洋書

CMOS Gate-Stack Scaling — Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155 (Mrs Proceedings)  Hardcover,  言語:ENG

Demkov, Alexander A. (EDT)/ Taylor, Bill (EDT)/ Harris, H. Rusty (EDT)

  • ウェブストア価格 ¥24,630(本体¥22,391)
  • Materials Research Society(2009/11発売)
  • ポイント 223pt
  • オンデマンド(OD/POD)版です。キャンセルは承れません。
Materials Fundamentals of Gate Dielectrics
  • 洋書

Materials Fundamentals of Gate Dielectrics  Paperback,  言語:ENG

Demkov, Alexander A./ Navrotsky, Alexandra

  • ウェブストア価格 ¥35,183(本体¥31,985)
  • Springer(2011/02発売)
  • ポイント 319pt
  • 海外取次在庫