A Designer's Guide to Built-In Self-Test (Frontiers in Electronic Testing)
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A Designer's Guide to Built-In Self-Test (Frontiers in Electronic Testing)  Paperback,  言語:ENG

Stroud, Charles E.

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  • Springer-Verlag New York Inc.(2013/03発売)
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System-on-Chip Test Architectures : Nanometer Design for Testability (Systems on Silicon)
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System-on-Chip Test Architectures : Nanometer Design for Testability (Systems on Silicon)  Hardcover,  言語:ENG

Wang, Laung-Terng/ Stroud, Charles E./ Touba, Nur A.

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  • Morgan Kaufmann Publishers In(2008/01発売)
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