A Designer's Guide to Built-In Self-Test (Frontiers in Electronic Testing)

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A Designer's Guide to Built-In Self-Test (Frontiers in Electronic Testing)

Stroud, Charles E.

ウェブストア価格 ¥47,700（本体¥43,364）
Springer-Verlag New York Inc.（2013/03発売）
外貨定価 US$ 219.99
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製本 Paperback:紙装版/ペーパーバック版／ページ数 320 p.
言語 ENG
商品コード 9781475776263
DDC分類 621

Full Description

The BIST approaches include the Built-In Logic Block Observer, pseudo-exhaustive BIST techniques, Circular BIST, scan-based BIST, BIST for regular structures, BIST for FPGAs and CPLDs, mixed-signal BIST, and the integration of BIST with concurrent fault detection techniques for on-line testing.