走査電子顕微鏡:画像の物理学(第3版)<br>Scanning Electron Microscopy : Physics of Image Formation and Microanalysis (3rd ed. 511 p. w. 260 figs. 23,5 cm)
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走査電子顕微鏡:画像の物理学(第3版)
Scanning Electron Microscopy : Physics of Image Formation and Microanalysis (3rd ed. 511 p. w. 260 figs. 23,5 cm)
 Hardcover,  言語:ENG

Reichelt, Rudolf/ Reimer, Ludwig

  • SPRINGER, BERLIN
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