Delay Fault Testing for VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing)
  • 洋書

Delay Fault Testing for VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing)  Paperback,  言語:ENG

Krstic, Angela/ Kwang-Ting (Tim) Cheng

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  • Springer-Verlag New York Inc.(2012/10発売)
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