Delay Fault Testing for VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing)

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Delay Fault Testing for VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing)

Krstic, Angela/ Kwang-Ting (Tim) Cheng

ウェブストア価格 ¥35,422（本体¥32,202）
Springer-Verlag New York Inc.（2012/10発売）
外貨定価 US$ 169.99
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製本 Paperback:紙装版/ペーパーバック版／ページ数 191 p.
言語 ENG
商品コード 9781461375616
DDC分類 621

Full Description

In that sense, this book is the best x DELAY FAULT TESTING FOR VLSI CIRCUITS available guide for an engineer designing or testing VLSI systems. Tech niques for path delay testing and for use of slower test equipment to test high-speed circuits are of particular interest.