Electromigration in Thin Films and Electronic Devices : Materials and Reliability
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Electromigration in Thin Films and Electronic Devices : Materials and Reliability  言語:ENG

Kim, Choong-Un (EDT)

  • 価格 ¥36,349(本体¥33,045)
  • Woodhead Publishing(2011/08/28発売)
  • ポイント 330pt (実際に付与されるポイントはご注文内容確認画面でご確認下さい)