Applications et métrologie à l'échelle nanométrique 1 : matériaux intelligents, onde électromagnétique et incertitudes
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Applications et métrologie à l'échelle nanométrique 1 : matériaux intelligents, onde électromagnétique et incertitudes  Paperback,  言語:FRE

Dahoo, Pierre Richard/ Pougnet, Philippe

  • Hermes Science Publishing Ltd(2021/12発売)
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Applications et métrologie à l'échelle nanométrique 2 : systèmes de mesure, ingénierie quantique et méthodes d'optimisation fiabiliste
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Applications et métrologie à l'échelle nanométrique 2 : systèmes de mesure, ingénierie quantique et méthodes d'optimisation fiabiliste  Paperback,  言語:FRE

Dahoo, Pierre Richard/ Pougnet, Philippe

  • Hermes Science Publishing Ltd(2021/12発売)
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Applications and Metrology at Nanometer Scale 1 : Smart Materials, Electromagnetic Waves and Uncertainties
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Applications and Metrology at Nanometer Scale 1 : Smart Materials, Electromagnetic Waves and Uncertainties  Hardcover,  言語:ENG

Dahoo, Pierre-Richard/ Pougnet, Philippe/ El Hami, Abdelkhalak

  • ウェブストア価格 ¥34,388(本体¥31,262)
  • ISTE Ltd and John Wiley & Sons Inc(2021/02発売)
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Applications and Metrology at Nanometer-Scale 2 : Measurement Systems, Quantum Engineering and RBDO Method
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Applications and Metrology at Nanometer-Scale 2 : Measurement Systems, Quantum Engineering and RBDO Method  Hardcover,  言語:ENG

Dahoo, Pierre-Richard/ Pougnet, Philippe/ El Hami, Abdelkhalak

  • ウェブストア価格 ¥34,388(本体¥31,262)
  • ISTE Ltd and John Wiley & Sons Inc(2021/05発売)
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Les systèmes mécatroniques embarqués 1 : Analyse des causes de défaillances, fiabilité et contraintes - 2e édition revue et augmentée
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Les systèmes mécatroniques embarqués 1 : Analyse des causes de défaillances, fiabilité et contraintes - 2e édition revue et augmentée  言語:FRE

Hami, Abdelkhalak El/ Pougnet, Philippe

  • Hermes Science Publishing Ltd(2020/01発売)
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Les systèmes mécatroniques embarqués 2 : Analyse des causes de défaillances, modélisation, simulation et optimisation - 2e édition revue et augmentée
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Les systèmes mécatroniques embarqués 2 : Analyse des causes de défaillances, modélisation, simulation et optimisation - 2e édition revue et augmentée  言語:FRE

Hami, Abdelkhalak El/ Pougnet, Philippe

  • Hermes Science Publishing Ltd(2020/01発売)
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Embedded Mechatronic Systems 2 : Analysis of Failures, Modeling, Simulation and Optimization (2ND)
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  • 電子版あり

Embedded Mechatronic Systems 2 : Analysis of Failures, Modeling, Simulation and Optimization (2ND)  Hardcover,  言語:ENG

El Hami, Abdelkhalak (EDT)/ Pougnet, Philippe (EDT)

  • ウェブストア価格 ¥26,357(本体¥23,961)
  • ISTE Press Ltd - Elsevier Inc(2020/03発売)
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Embedded Mechatronic Systems : Analysis of Failures, Predictive Reliability (2ND)
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  • 電子版あり

Embedded Mechatronic Systems : Analysis of Failures, Predictive Reliability (2ND)  Hardcover,  言語:ENG

El Hami, Abdelkhalak (EDT)/ Pougnet, Philippe (EDT)

  • ウェブストア価格 ¥26,357(本体¥23,961)
  • ISTE Press Ltd - Elsevier Inc(2019/11発売)
  • ポイント 239pt
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Défauts à l'échelle nanométrique en lumière polarisée
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Défauts à l'échelle nanométrique en lumière polarisée  言語:FRE

Dahoo, Pierre Richard/ Pougnet, Philippe

  • Hermes Science Publishing Ltd(2016/07発売)
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Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light (Mechanical Engineering and Solid Mechanics: Reliability of Multiphysical Systems)
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Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light (Mechanical Engineering and Solid Mechanics: Reliability of Multiphysical Systems)  Hardcover,  言語:ENG

Dahoo, Pierre Richard/ Pougnet, Philippe/ El Hami, Abdelkhalak

  • ウェブストア価格 ¥34,388(本体¥31,262)
  • Iste/Hermes Science Pub(2016/08発売)
  • ポイント 312pt
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