Applications et métrologie à l'échelle nanométrique 2 : systèmes de mesure, ingénierie quantique et méthodes d'optimisation fiabiliste

Applications et métrologie à l'échelle nanométrique 2 : systèmes de mesure, ingénierie quantique et méthodes d'optimisation fiabiliste

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  • 製本 Paperback:紙装版/ペーパーバック版/ページ数 232 p.
  • 言語 FRE
  • 商品コード 9781784057947

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