Scanning Probe Microscopy of Functional Materials : Nanoscale Imaging and Spectroscopy
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Scanning Probe Microscopy of Functional Materials : Nanoscale Imaging and Spectroscopy  Paperback,  言語:ENG

Kalinin, Sergei V. (EDT)/ Gruverman, Alexei (EDT)

  • ウェブストア価格 ¥48,629(本体¥44,209)
  • Springer-Verlag New York Inc.(2016/08発売)
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Scanning Probe Microscopy : Electrical and Electromechanical Phenomena at the Nanoscale
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Scanning Probe Microscopy : Electrical and Electromechanical Phenomena at the Nanoscale  Paperback,  言語:ENG

Kalinin, Sergei V./ Gruverman, Alexei

  • ウェブストア価格 ¥92,231(本体¥83,847)
  • Springer-Verlag New York Inc.(2016/11発売)
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Nanoscale Characterisation of Ferroelectric Materials : Scanning Probe Microscopy Approach (Nanoscience and Technology)
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Nanoscale Characterisation of Ferroelectric Materials : Scanning Probe Microscopy Approach (Nanoscience and Technology)  Paperback,  言語:ENG

Alexe, Marin (EDT)/ Gruverman, Alexei (EDT)

  • ウェブストア価格 ¥47,039(本体¥42,763)
  • Springer(2010/12発売)
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走査プローブ顕微鏡:ナノスケールにおける電気・電気機械的現象(全2巻)<br>Scanning Probe Microscopy Electrical and Electromechanical Phenomena at the Nanoscale : Fundamentals and Applications (2006. IV, 1074 p.. w. 350 figs.)
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強誘電体材料のナノスケール・キャラクタリゼーション<br>Nanoscale Characterisation of Ferroelectric Materials : Scanning Probe Microscopy Approach (Nanoscience and Technology) (2004. XIV, 282 p. w. 174 figs.)
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強誘電体材料のナノスケール・キャラクタリゼーション
Nanoscale Characterisation of Ferroelectric Materials : Scanning Probe Microscopy Approach (Nanoscience and Technology) (2004. XIV, 282 p. w. 174 figs.)
 Hardcover

Ed. by M. Alexe and A. Gruverman

  • ウェブストア価格 ¥42,456(本体¥38,597)
  • SPRINGER, BERLIN(2004発売)
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