Scanning Probe Microscopy of Functional Materials : Nanoscale Imaging and Spectroscopy

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Scanning Probe Microscopy of Functional Materials : Nanoscale Imaging and Spectroscopy

Kalinin, Sergei V. (EDT)/ Gruverman, Alexei (EDT)

ウェブストア価格 ¥48,939（本体¥44,490）
Springer-Verlag New York Inc.（2016/08発売）
外貨定価 US$ 219.99
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製本 Paperback:紙装版/ペーパーバック版／ページ数 555 p.
言語 ENG
商品コード 9781493939473
DDC分類 620

Full Description

The goal of this book is to provide a general overview of the rapidly developing field of novel scanning probe microscopy (SPM) techniques for characterization of a wide range of functional materials, including complex oxides, biopolymers, and semiconductors.