走査プローブ顕微鏡：ナノスケールにおける電気・電気機械的現象（全２巻） Scanning Probe Microscopy Electrical and Electromechanical Phenomena at the Nanoscale : Fundamentals and Applications （2006. IV, 1074 p.. w. 350 figs.）

走査プローブ顕微鏡：ナノスケールにおける電気・電気機械的現象（全２巻）<br>Scanning Probe Microscopy Electrical and Electromechanical Phenomena at the Nanoscale : Fundamentals and Applications （2006. IV, 1074 p.. w. 350 figs.）

走査プローブ顕微鏡：ナノスケールにおける電気・電気機械的現象（全２巻）
Scanning Probe Microscopy Electrical and Electromechanical Phenomena at the Nanoscale : Fundamentals and Applications （2006. IV, 1074 p.. w. 350 figs.）

Kalinin, Sergei/ Gruverman, Alexei

springer（2006発売）

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製本 Hardcover:ハードカバー版／ページ数 1,074 p.／サイズ 350 illus.
言語 ENG
商品コード 9780387286679

基本説明

Presents practical and theoretical issues of advanced scanning probe microscopy (SPM) techniques ranging from fundamental physical studies to device characterization, failure analysis, and nanofabrication.

Full Description

Volume 1 focuses on the technical aspects of SPM methods ranging from scanning tunneling potentiometry to electrochemical SPM, and addresses the fundamental physical phenomena underlying the SPM imaging mechanism.