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表面分析：ＳＩＭＳ - 二次イオン質量分析法の基礎と応用
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表面分析：ＳＩＭＳ - 二次イオン質量分析法の基礎と応用

ブリッグス，デビッド〈Ｂｒｉｇｇｓ，Ｄ．〉/シーア，マーティン・Ｐ．【編】〈Ｓｅａｈ，Ｍ．Ｐ．〉/志水 隆一/二瓶 好正【監訳】

  • 価格 ¥9,350（本体¥8,500）
  • アグネ承風社（2003/07発売）
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表面分析 〈上巻〉 - 基礎と応用
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表面分析 〈上巻〉 - 基礎と応用

ブリッグス，Ｄ．〈Ｂｒｉｇｇｓ，Ｄ．〉/シーア，Ｍ．Ｐ．〈Ｓｅａｈ，Ｍ．Ｐ．〉【編】/表面分析研究会【訳】/合志 陽一/志水 隆一【監訳】

  • 価格 ¥8,250（本体¥7,500）
  • アグネ（1990/07発売）
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    ※店舗受取サービス対象外商品
表面分析 〈下巻〉 - 基礎と応用
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表面分析 〈下巻〉 - 基礎と応用

ブリッグス，Ｄ．〈Ｂｒｉｇｇｓ，Ｄ．〉/シーア，Ｍ．Ｐ．【編】〈Ｓｅａｈ，Ｍ．Ｐ．〉/表面分析研究会【訳】/合志 陽一/志水 隆一【監訳】

  • アグネ（1990/10発売）
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