ナノテクノロジーのための表面電子回折法

著者名：日本表面科学会【編】

丸善出版（2024/12発売）

• ISBN：9784621072059

内容説明

※この商品はタブレットなど大きいディスプレイを備えた端末で読むことに適しています。また、文字だけを拡大することや、文字列のハイライト、検索、辞書の参照、引用などの機能が使用できません。

電子線回折法というのは、固体表面に、原子や分子がどのように並んでいるかを調べるための実験手法の一つである。入射電子は、固体表面の原子や分子によって散乱され、スクリーンに模様をつくる。その模様が、固体表面の原子や分子の配列を反映している。本書は、そのなかでも使用度の高い低速電子線回折法（LEED）および反射高速電子線回折法（RHEED）について、原理から応用例までを詳しく解説する。ミクロな部分を調べる走査プローブ顕微鏡等の装置に対し、マクロな領域を調べるためのツールとして相補的に活用されている。底本2003年発行。

目次

1.　はじめに
2.　電子回折法で分かること
3.　電子線回折装置
4.　低速電子回折法
5.　低速電子回折法発展的手法
6.　反射高速電子回折法
7.　反射高速電子回折の応用例
8.　まとめ
付録1.　並進群・点群およびブラヴェ格子
付録2.　原理

感想・レビュー

※以下の感想・レビューは、株式会社ドワンゴの提供する「読書メーター」によるものです。

[kaizen@名古屋de朝活読書会]

百eV(イーブイ）低速電子回析法高真空と計算機による #短歌　p.3 「コンピュータを利用した測定の自動化により信頼性の高い測定が可能になり、コンピュータの高速化は実験結果の解析を容易にした。」

2021/02/02