基本法則から読み解く物理学最前線 20 走査透過電子顕微鏡の物理

基本法則から読み解く物理学最前線 20<br> 走査透過電子顕微鏡の物理

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基本法則から読み解く物理学最前線 20
走査透過電子顕微鏡の物理

著者名：田中信夫【著】/須藤彰三ほか【監修】
価格 ¥2,200（本体¥2,000）
共立出版（2021/09発売）
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ISBN：9784320035409

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内容説明

本書では、発展著しい透過電子顕微鏡法を大きく牽引している、走査透過電子顕微鏡(Scanning transmission electron microscopy; STEM)を詳解し、代表的な研究成果を簡潔にまとめている。人類が原子を直接観察できるようになるまでの歴史も概観し、X線回折法や光学顕微鏡および走査プローブ顕微鏡法と比較しながら、STEMの本質をやさしく解説した一冊である。

第１章　はじめに
第２章　原子を研究する人類
第３章　顕微鏡像を得る２つの方法
第４章　粒子としての電子と波動としての電子
第５章　ＳＴＥＭの結像原理
第６章　ＳＴＥＭの各種結像モード
第７章　ＳＴＥＭの実際の装置と応用
第８章　電子顕微鏡の分解能はどこまでいくか？
第９章　おわりに
付録