Atomic Force Microscopy: A Concise Introduction

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Atomic Force Microscopy: A Concise Introduction

Burnham, Nancy A

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World Scientific Publishing Co Pte Ltd（2025/12発売）
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製本 Paperback:紙装版/ペーパーバック版／ページ数 250 p.
言語 ENG
商品コード 9789819824304

Full Description

This book offers a comprehensive and accessible introduction to atomic force microscopy (AFM) — a fundamental technique in nanoscience, nanotechnology, and materials characterization. While the basic operating principle of AFM is straightforward, the processes of data acquisition, quantitative analysis, and interpretation require deeper scientific understanding.Designed for readers with a first-year university background in mathematics and physics, this text builds a strong foundation for mastering both the practical and theoretical aspects of AFM.