Design, Analysis and Test of Logic Circuits under Uncertainty (Lecture Notes in Electrical Engineering) （2013）

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Design, Analysis and Test of Logic Circuits under Uncertainty (Lecture Notes in Electrical Engineering) （2013）

Krishnaswamy, Smita/ Markov, Igor L./ Hayes, John P.

ウェブストア価格 ¥24,623（本体¥22,385）
Springer（2014/10発売）
外貨定価 US$ 109.99
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製本 Paperback:紙装版/ペーパーバック版／ページ数 124 p.
言語 ENG
商品コード 9789400797987
DDC分類 621

Full Description

Logic circuits are becoming increasingly susceptible to probabilistic behavior caused by external radiation and process variation. Ensuring the reliability of such circuits despite the probabilistic behavior is a key challenge in IC design---one that necessitates a fundamental, probabilistic reformulation of synthesis and testing techniques.