Patent- und Gebrauchsmusterverletzung (Schriftenreihe der Hagen Law School) （3., überarb. Aufl. 2014. 123 S. 210 mm）

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Patent- und Gebrauchsmusterverletzung (Schriftenreihe der Hagen Law School) （3., überarb. Aufl. 2014. 123 S. 210 mm）

Hahn, Tobias/ Richter, Stefan

ウェブストア価格 ¥6,169（本体¥5,609）
BWV - BERLINER WISSENSCHAFTS-VERLAG（2014発売）
外貨定価 EUR 24.80
ポイント 56pt

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製本 Paperback:紙装版/ペーパーバック版
商品コード 9783830533573

Description

(Author portrait)
Tobias Hahn obtained his doctorate at the Chair of Information and Communication Management at the Technische Universität Berlin. He currently works in the division of business transformation for a leading integrated telecommunications group.