Resonant X-Ray Scattering in Correlated Systems (Springer Tracts in Modern Physics)

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Resonant X-Ray Scattering in Correlated Systems (Springer Tracts in Modern Physics)

Murakami, Youichi (EDT)/ Ishihara, Sumio (EDT)

ウェブストア価格 ¥30,945（本体¥28,132）
Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. K（2017/01発売）
外貨定価 US$ 139.99
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製本 Hardcover:ハードカバー版／ページ数 241 p.
言語 ENG
商品コード 9783662532256
DDC分類 530.41

Full Description

The research and its outcomes presented here is devoted to the use of x-ray scattering to study correlated electron systems and magnetism. Different x-ray based methods are provided to analyze three dimensional electron systems and the structure of transition-metal oxides. Finally the observation of multipole orderings with x-ray diffraction is shown.

Resonant X-ray Scattering and Orbital Degree of Freedom in Correlated Electron Systems (S. Ishihara).- Resonant X-ray scattering in 3d electron systems (H. Nakao).- Observation of multipole orderings in f-electron systems by resonant x-ray diffraction (T. Matsumura).- Hard X-ray Resonant Scattering for Studying Magnetism (T. Arima).- Resonant soft x-ray scattering studies of transition-metal oxides (H. Wadati).- Resonant inelastic x-ray scattering in strongly correlated copper oxides (K. Ishii).