Scanning Probe Microscopy : Atomic Force Microscopy and Scanning Tunneling Microscopy (Nanoscience and Technology)

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Scanning Probe Microscopy : Atomic Force Microscopy and Scanning Tunneling Microscopy (Nanoscience and Technology)

Voigtländer, Bert

ウェブストア価格 ¥44,771（本体¥40,701）
Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. K（2016/10発売）
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製本 Paperback:紙装版/ペーパーバック版／ページ数 382 p.
商品コード 9783662505571

Full Description

This book explains the operating principles of atomic force microscopy and scanning tunneling microscopy. The aim of this book is to enable the reader to operate a scanning probe microscope successfully and understand the data obtained with the microscope.