Zuverlässige Bauelemente für elektronische Systeme : Fehlerphysik, Ausfallmechanismen, Prüffeldpraxis, Qualitätsüberwachung

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Zuverlässige Bauelemente für elektronische Systeme : Fehlerphysik, Ausfallmechanismen, Prüffeldpraxis, Qualitätsüberwachung

Băjenescu, Titu-Marius I.

ウェブストア価格 ¥29,170（本体¥26,519）
Springer Vieweg（2020/01発売）
外貨定価 US$ 139.99
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製本 Hardcover:ハードカバー版／ページ数 639 p.
商品コード 9783658221775

Full Description

Speicher, Mikroprozessoren, Opto-, MEMS- und NEMS-Bauteile zusammen mit den passiven Komponenten sind das Hauptthema des Buches. Praktische Methoden zur Untersuchung der Zuverlässigkeit sind ergänzt durch umfangreiche Tabellen und veranschaulicht durch zahlreiche Diagramme. Damit erhält der Leser präzise, praxisnah und umfassend sämtliche Zuverlässigkeitsaspekte einfacher und komplexer elektronischer Bauelemente - von der Fehlerphysik über die Prüffeldpraxis und Ausfallmechanismen bis zur Qualitätsüberwachung.

Zuverlässigkeit einbauen.- Verpackungstechnologien und Zuverlässigkeit.- Memristor, der Speicherwiderstand.- Test und Testbarkeit integrierter Schaltungen.- Zuverlässigkeit diskreter passiver Bauelemente.- Zuverlässigkeit von Leistungsbauelementen.- Zuverlässigkeit monolithisch integrierter Schaltungen.- Aspekte der Zuverlässigkeit von Halbleiterspeichern und Mikroprozessoren.- Zuverlässigkeit optoelektronischer Komponenten.- Zuverlässigkeit von Mikro- und Nanosystemen.- Ausfallanalyse.