X-Ray Diffraction by Disordered Lamellar Structures: Theory and Applications to Microdivided Silicates and Carbons

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X-Ray Diffraction by Disordered Lamellar Structures: Theory and Applications to Microdivided Silicates and Carbons

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  • 製本 Paperback:紙装版/ペーパーバック版／ページ数 371 p.
  • 商品コード 9783642748042
  • DDC分類 548.83

Full Description

New methods for the determination of the nature, proportion, and distribution of structural defects in microcrystallized lamellar systems are of utmost importance not only to experimentalists but also to theoreticians.

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