Advances in Scanning Probe Microscopy (Advances in Materials Research)

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Advances in Scanning Probe Microscopy (Advances in Materials Research)

Sakurai, T. (EDT)/ Watanabe, Y. (EDT)

ウェブストア価格 ¥23,074（本体¥20,977）
Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. K（2012/10発売）
外貨定価 US$ 109.99
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製本 Paperback:紙装版/ペーパーバック版／ページ数 343 p.
言語 ENG
商品コード 9783642630842
DDC分類 620.11

Full Description

There have been many books published on scanning tunneling microscopy (STM), atomic force microscopy (AFM) and related subjects since Dr. Cerd Binnig and Dr. Heinrich Rohrer invented STM in 1982 and AFM in 1986 at IBM Research Center in Zurich, Switzerland.