Thin Film and Depth Profile Analysis (Topics in Current Physics) （Reprint）

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Thin Film and Depth Profile Analysis (Topics in Current Physics) （Reprint）

Oechsner, H. (EDT)/ Etzkorn, H.-W. (CON)/ Hofer, W. O. (CON)/ Hofmann,

ウェブストア価格 ¥24,623（本体¥22,385）
Springer Verlag（2012/07発売）
外貨定価 US$ 109.99
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製本 Paperback:紙装版/ペーパーバック版／ページ数 205 p.
言語 ENG
商品コード 9783642465017
DDC分類 620

Full Description

Oechsner . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 Requirements for Thin Film and In-Depth Analysis . 2 Object and Outl i ne of the Book . Werner (With 25 Fi gures) . 1 Depth Profi 1 ing . 3 Determining Physical Structures in Material Research . 1 X-Ray Diffraction . 2 X-Ray Double Crystal Diffraction .