Nanotribology and Nanomechanics I : Measurement Techniques and Nanomechanics （2011）

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Nanotribology and Nanomechanics I : Measurement Techniques and Nanomechanics （2011）

Bhushan, Bharat (EDT)

ウェブストア価格 ¥11,380（本体¥10,346）
Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. K（2014/11発売）
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製本 Paperback:紙装版/ペーパーバック版／ページ数 623 p.
商品コード 9783642427992

Full Description

The comprehensive reference and textbook serves as a timely, practical introduction to the principles of nanotribology and nanomechanics. Assuming some familiarity with macroscopic tribology, the book comprises chapters by internationally recognized experts, who integrate knowledge of the field from the mechanics and materials-science perspectives. They cover key measurement techniques, their applications, and theoretical modelling of interfaces, each beginning their contributions with macro- and progressing to microconcepts.

Introduction - Measurement Techniques and Applications.- Scanning Probe Microscopy - Principle of Operation, Instrumentation and Probes.- General and Special Probes in Scanning Microscopies.- Force Calibration Techniques for AFM Cantilevers.- Noncontact Atomic Force Microscopy and Related Topics.- Low Temperature Scanning Probe Microscopy.- Dynamic Modes of Atomic Force Microscopy.- Molecular Single Molecular Recognition Force Spectroscopy and Imaging.- Nanomechanical Properties of Solid Surfaces and Thin Films.- Computer Simulations of Nanometer-Scale Indentation and Friction.